关于硅质与锗质的X射线探测器想法
2016-12-13
X射线的能谱探测与相关应用的想法
目前对X射线和gamma射线的探测，能量分辨率比较号的探测器是硅、锗材质的半导体探测器。 硅晶体的密度为2.33 g/cm3，锗晶体的密度为5.32 g/cm3。
半导体探测器有较好的时间分辨率，仅次于闪烁体，约为100ns级。
锗对于11keV-100keV能量段射线的吸收优于硅，在同一能量点上，前者对光子的衰减比后者高一个数量级，同时密度是后者的两倍。 说明在相同的几何条件下，锗探测器的探测效率是硅的20倍。在配合特定能段的能谱采集，提高信号的信噪比，只计数特定能量段，